Atom Probe Field Ion Microscopy(Monographs on the Physics and Chemistry of Materials)

原子探针场离子显微镜

物理学史

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出  版 社
出版时间
1996年09月19日
装      帧
精装
ISBN
9780198513872
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页      码
520
开      本
234x156mm
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图书简介
A definitive account of the theory, practice, and applications of atom probe field ion microscopy (APFIM). The APFIM technique provides a unique method for observing and chemically identifying single atoms on solid surfaces. New applications for this technique are rapidly emerging and graduate level material and surface scientists will enjoy this account of the state-of-the-art.
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