Monte Carlo Modeling for Electron Microscopy and Microanalysis

Monte Carlo Modeling for Electron Microscopy and Microanalysis（Oxford Series in Optical and Imaging Sciences）
物理学史

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作者

Joy David C.

出版社

Oxford University Press

出版时间

1995年06月15日

装帧

精装

ＩＳＢＮ

9780195088748

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页码

224

开本

234x156mm

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图书简介

This book is a practical guide to the use of Monte Carlo simulation techniques for the study of electron solid interactions in the electron microscope. Programs, optimized for use on personal computers, are developed to deal with typical applications including secondary, and back- scattered, electron imaging. EBIC imaging of semiconductors and X-ray microanalysis.

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